您的位置: 首页 > XRD行业应用

晶粒尺寸测定

发布日期：2025-10-07 16:28

信息摘要：

晶粒尺寸测定：　　纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以精确测定纳米粒子的平均粒径。...

晶粒尺寸测定：

　　纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以精确测定纳米粒子的平均粒径。

【相关推荐】

关键词：

推荐产品

: DX-27mini台式X射线衍射仪

为工业化生产、质量控制而设计，浓缩X射线衍射仪生产的先进技术，功能化与小型化台式X射线衍射仪。能够精确地对金属和非金属样品进行定性分析、定量及晶体结构分...

: DX-2800高分辨X射线衍射仪

组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材...

: DX-2700BH多功能X射线衍射仪

组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超...