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高温四探针电阻率测试仪

高温四探针电阻率测试仪 高温四探针电阻率测试仪

  • 简介:高温四探针电阻率测试仪探针间距 标配外(选购): 温度精度 冲温值:≤1-3℃;控温精度:±1°C 供电:400-1200℃ 电源220V,功率4KW;380V;1400℃-1600℃电源380V;功率9KW: 高温电源: 高温四探针电阻率测试仪探针间距 标配外(选购): 温度精度 冲温值:≤1-3℃;控温精度:±1°C 供电:400-1
产品详细

高温四探针电阻率测试仪探针间距 
 
标配外(选购):
 
温度精度 冲温值:≤1-3℃;控温精度:±1°C
 
供电:400-1200℃ 电源220V,功率4KW;380V;1400℃-1600℃电源380V;功率9KW:
 
高温电源:
 
高温四探针电阻率测试仪探针间距 
 
标配外(选购):
 
温度精度 冲温值:≤1-3℃;控温精度:±1°C
 
供电:400-1200℃ 电源220V,功率4KW;380V;1400℃-1600℃电源380V;功率9KW:
 
高温电源:
 
规格型号 FT-351A FT-351B FT-351C
 
用于:企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据.
 
方块电阻范围 10-5~2×105Ω 10-6~2×105Ω 10-4~1×107Ω
 
电阻精度 ≤0.3% ≤0.3% ≤10%
 
PC软件界面 显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
 
二.适用行业::
 
双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。
 
高温材料 采用复合陶瓷纤维材料,具有真空成型,高温不掉粉的特征
 
 
 
温度(选购)
 
电极材料 钨电极或钼电极 
 
配套方案:解决各材料状态 --固态、液态、气态、颗粒状 电阻、电阻率、电导率测量
 
误差 ≤3%(标准样片结果 ≤15%
 
采用四探针双电组合测量方法测试方阻和电阻率系统与高温箱结合配置高温四探针测试探针治具与PC软件对数据的处理和测量控制,解决半导体材料的电导率对温度变化测量要求,软件实时绘制出温度与电阻,电阻率,电导率数据的变化曲线图谱,及过程数据值的报表分析.
 
常温 --400℃;600℃;800℃;1000℃;1200℃;1400℃;1600℃
 
电流精度 ±0.1%读数 ±0.1读数 ±2%
 
气氛保护(气体客户自备) 常用气体如下:氦(He)、氖(Ne)、氩(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn),均为无色、无臭、气态的单原子分子
 
 
 
升温速度: 常温开始400℃--800℃需要15分钟;800℃-1200℃需要30分钟;1400℃-1600℃需要250分钟—300分钟
 
电脑和打印机1套;2.标准电阻1-5个
 
测试方式 双电测量
 
测试PC软件一套,USB通讯接口,软件界面同步显示、分析、保存和打印数据! 
 
 
 
四探针仪工作电源 AC 220V±10%.50Hz  <30W 
 
一.BEST-351系统概述:
 
直线型探针,探针中心间距:4mm;样品要求大于13mm直径
 
测试电流范围 0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA,10mA,100 mA 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA 10mA?---200pA
 
三.型号及参数:
 
电阻率范围 10-6~2×106Ω-cm 10-7~2×106Ω-cm 10-5~2×108Ω-cm
 
PC软件
 
规格型号 FT-351A FT-351B FT-351C
 
用于:企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据.
 
方块电阻范围 10-5~2×105Ω 10-6~2×105Ω 10-4~1×107Ω
 
电阻精度 ≤0.3% ≤0.3% ≤10%
 
PC软件界面 显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
 
二.适用行业::
 
双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。
 
高温材料 采用复合陶瓷纤维材料,具有真空成型,高温不掉粉的特征
 
 
 
温度(选购)
 
电极材料 钨电极或钼电极 
 
配套方案:解决各材料状态 --固态、液态、气态、颗粒状 电阻、电阻率、电导率测量
 
误差 ≤3%(标准样片结果 ≤15%
 
 
 
组阻的程图统,与数探件制双高四对理值出,阻件分软测采量合过法度变率率具导探导电测的报合四的半时材C方配据治系方电与高温,温化数温用料谱曲据置实化的导试线电量软电P解数据变表测.箱,与试对析结和及体率测量绘要率求度和电阻测电决探制针针控阻,温处针
 
℃62100001;0;08℃0℃44;10;10006 ℃0常-0;℃;温℃℃00-
 
数%精1数±± 0.±读电1%2度 .流0 读
 
的(re气氪子N用、A、无(分色、 氦ee子护氩气臭、,、((保态氙、)体自H户单氖常X)均(r)如、体)气)氛)(客R):为K氡备气无(原下n
 
1要要:30℃0分005 分钟开02;要钟0468钟温0-温;0℃0120℃℃0需-0411升—3℃50分速℃-常-08分度钟需始0需0
 
1.印机打套和准1-个2电阻脑电5标;
 
式试方电量双测 测
 
和讯、保C测P软,印一接界!件通S显软面口步件析据试同数、 B存套示U,打分
 
A1%工H<VW3探 ±0C5 电针 作仪 2.源四2000z
 
一.BEST-351高温四探针电阻率测试系统概述:
 
直线型探针,探针中心间距:4mm;样品要求大于13mm直径
 
测试电流范围 0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA,10mA,100 mA 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA 10mA?---200pA
 
三.型号及参数:
 
电阻率范围 10-6~2×106Ω-cm 10-7~2×106Ω-cm 10-5~2×108Ω-cm
 
PC软件
 

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